★ 產品概述

WX5080寬量程精密四探針方阻測試儀是運用四探針測量原理的多用途寬量程綜合測量設備, 同時也是電阻率測試儀、電導率測試儀.該儀器是按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，可用于測試半導體及其他各種材料電阻率及方塊電阻的專用儀器。

★ 性能特點

1、最高方阻精度：3%；方阻最小分辨：1μΩ

2、最高電阻精度：0.05%；電阻最小分辨：1μΩ

3、溫度補償功能(TC)；溫度基本精度：0.1°C

4、被測件厚度可預設，電阻率測試無需查表

5、零底數設計，微弱電阻測試無需清零

6、雙電測模式，修正探針游移與樣品邊際效應

7、HANDLER/USB/RS232/RS485接口遠程控制

8、U盤記錄測試數據，并可遠程升級儀器固件

9、符合國標GBT 1551-2009及GBT 1552-1995

10、適用于測量半導體、導電薄膜、金屬/納米涂層、

11、太陽能材料、陶瓷等，也可直接測量電阻器

12、體積：400mm(寬)×130mm(高)×350mm(深) 凈重：約8kg

★ 技術參數